Rumah Produk Interferometri Cahaya Putih

Interferometri Cahaya Putih Rasional Profiler permukaan optik kecepatan tinggi

Semua produk

Sistem Pengukuran Visi (21)

Sistem Pengukuran Video (22)

Mesin Pengukur Video (48)

Sistem Pengukuran Visual (29)

Pembanding Optik Digital (31)

profil optik proyektor (30)

Alat Pembuat Mikroskop (6)

Metalografi Mikroskop (10)

Alat Mesin Presetting (19)

Interferometri Cahaya Putih (5)

Alat Pengukur Ketinggian Elektronik (20)

Grating Ruler (4)

Skala linear (9)

Sistem Pembacaan Digital (15)

Sertifikasi

kualitas baik Sistem Pengukuran Video untuk penjualan

Saya sudah mendapatkan instrumen Anda dan terkesan untuk pandangan pertama, sangat nyaman untuk operasi.

—— William

Dengan senang hati saya mewakili produk perusahaan Anda.

—— Nancy

Terima kasih atas dukungan Anda kepada kami.

—— Paul

Terima kasih atas layanan dan dukungannya bagi kami, kami ingin bekerja sama dengan Anda sepanjang waktu.

—— TOM

Pelanggan kami telah menguji mesin, sekarang berfungsi dengan baik, terima kasih. Kami akan memesan lebih banyak dalam waktu dekat.

—— Jabbar

Merek internasional "Rasional" ， Sangat senang menjadi agen Anda

—— Simon

I 'm Online Chat Now

Interferometri Cahaya Putih Rasional Profiler permukaan optik kecepatan tinggi

Gambar besar : Interferometri Cahaya Putih Rasional Profiler permukaan optik kecepatan tinggi

Detail produk:

Tempat asal:	Guangdong China
Nama merek:	Rational
Sertifikasi:	CE SGS ISO
Nomor model:	Interferometer Cahaya Putih

Syarat-syarat pembayaran & pengiriman:

Kuantitas min Order:	1 Set
Harga:	Negotiable
Kemasan rincian:	Kemasan vakum & kasus kayu fumigasi gratis
Waktu pengiriman:	Setelah menerima uang muka 5-15 hari kerja
Syarat-syarat pembayaran:	L / C, D / A, D / P, T / T
Menyediakan kemampuan:	10000 set per bulan

Kontak

Detil Deskripsi produk

Mengukur jangkauan:	100um (hingga 400um)	Kehidupan pelayanan rata-rata:	1000 jam (100W) 500 jam (150W)
Resolusi:	0.1nm	Kekuasaan:	AC 100-240V 50 / 60Hz
Memindai kecepatan:	12um / s tercepat	Nama merek:	Rational
Cahaya Tinggi:	optical surface profiler , vertical scanning interferometry

Interferometri Cahaya Putih Rasional Profiler Kecepatan Tinggi Optik

Produk singkat:

Dikombinasikan dengan mikroskop dan interferometer, White Light Interferometer, dengan pengukuran 3D ketinggian pemindaian vertikal 400um, cocok untuk garis besar dan pengukuran profil berbagai bahan dan komponen mikro. Instrumen ini tidak membutuhkan program yang diubah oleh cahaya yang kompleks. Ini banyak digunakan dalam lensa kaca, permukaan film pelapis, wafer, disk, MEMS (sistem mikro elektro mekanik), LCD pesawat, PCB kepadatan tinggi, pengemasan IC, analisis bahan, penelitian permukaan mikro, dll.

Fitur:

1. Pengukuran 3D untuk objek berskala nano.
2. Kecepatan tinggi dan non-kontak.
3. Analisis permukaan, profil dan kekasaran.
4. Bahan transparan atau non-transparan tersedia.
5. Pengukuran sinar non-elektron dan keamanan non-laser.
6. Perawatan berbiaya rendah.

Perangkat lunak pemrosesan dan analisis grafik 3D profesional (Post Topo):
1. antarmuka manusia-komputer yang user-friendly.
2. Kalibrasi sendiri untuk film standar lanjutan.
3. Analisis linear atau analisis regional tersedia ketika menganalisis kedalaman dan tinggi.
4. Analisis linear tersedia dalam kekasaran atau keresahan yang ditentukan oleh ISO.
5. 17 spesifikasi pengukuran dan 4 data pengukuran tambahan tersedia.
6. Analisis regional tersedia dalam analisis grafis atau analisis statistik.
7. Fitur pemrosesan 2D Fast Fourier Transform (FFT) seperti perataan, penajaman, dan gelombang filtrasi digital.
8. Keluaran hasil analisis menjadi beberapa file grafik seperti BMP, atau ke dalam format Excel oleh perangkat lunak penganalisa interferometer, ImgScan.

Perangkat Lunak Analisis Interferensi (ImgScan) dengan kecepatan dan presisi tinggi:

1. Perangkat keras sistem dikonfigurasikan dengan perangkat lunak pra-pemrosesan ImgScan untuk menganalisis pinggiran cahaya putih secara otomatis.
2. Tinggi vertikal hingga 0,1 nm.
3. Komputasi tinggi dan menganalisis perangkat lunak.
4. Pengaturan rentang pemindaian vertikal mudah dan sederhana.
5. Lensa tersedia dalam 10X, 20X atau 50X.
6. Tampilan numerik sumbu X, Y dan Z, yang membuat objek yang diukur lebih cepat dan lebih mudah dideteksi.
7. Kecerahan manual / otomatis tersedia untuk memperoleh perbandingan terbaik dari pinggiran warna putih.
8. Tersedia dalam mode pengukuran pemindaian PVSI presisi tinggi atau mode pengukuran pemindaian VSI kecepatan tinggi.
9. Perangkat lunak penganalisa yang dipatenkan cocok untuk mengukur profil 3D objek semi-transparan.
10. Titik perbaikan otomatis.
11. Arah pemindaian dapat diatur oleh pengguna.

Spesifikasi:

Model	AE-100M
Meja Pindah (mm)	Ukuran: 100 * 100, perjalanan: 13 * 13
Pembesaran Lensa	10X	20X	50X
Rentang Pengamatan / Pengukuran (mm)	0.43 * 0.32	0.21 * 0.16	0,088 * 0,066
Resolusi (μm)	0,92	0,69	0,5
Derajat	17	23	33
Jarak kerja	7.4	4.7	3.4
Resolusi sensor	piksel: 640 * 480
Berat / Beban (kg)	20kg / Kurang dari 1kg
Perjalanan sumbu-Z	45mm (penyetelan halus secara manual)
Tampilan digital Z-axis	Resolusi: 1μm
Platform penyesuaian cenderung	Pengaturan Biax / Manual
Pengukuran tinggi badan
Rentang pengukuran	100 (μm) (400μm. Konfigurasi opsional)
Resolusi	0.1nm
Akurasi berulang	≤ 0,1 ％ (Mengukur tinggi> 10μm)
	≤10nm (Mengukur tinggi1μm 10μm)
	≤ 5nm (Mengukur ketinggian <1μm)
Mengukur sistem kontrol	Otomatis
Kecepatan pemindaian (μm / s)	12 (tercepat)
Penerangan
Tipe	Lampu halogen
Rata rata umur	1000j 100W 500j (150W)
Kecerahan	Secara otomatis / manual menyesuaikan
Pemrosesan data dan komputer
Tampilan pemrosesan dan komputasi terpusat	Inti ganda + CUP
Tampilan pemrosesan video dan data	Layar LCD 17 "
OS	Windows XP (2)
Catu daya dan persyaratan lingkungan	AC100 --240 V 50-60Hz
Getaran lingkungan	VVC-C plus level
Mengukur dan menganalisis perangkat lunak
Mengukur perangkat lunak ImgScan	Perangkat lunak pengukur ImgScan: tersedia dalam mode pengukuran VSI / PVSI / PSI (mode pengukuran PSI harus dikonfigurasi dengan modul PSI)
Menganalisis perangkat lunak PosTopo	Analisis kekasaran / tinggi ISO, banyak transformasi 2D dan 3D fast fourier. Amati grafik tampilan seperti garis besar; garis besar, luas, dan analisis volume; zoom grafik; konversi format file video. Laporkan hasil; program pengukuran pengajaran.